產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
GCSTD-D高低頻介電常數(shù)試驗(yàn)測(cè)試儀
GDW-250電阻高溫度特性測(cè)試試驗(yàn)臺(tái)
NLD-AI全自動(dòng)高壓漏電起痕試驗(yàn) 漏電測(cè)試儀
GEST-121體積表面電阻測(cè)定儀
GCDDJ-100Kv電壓擊穿試驗(yàn)儀
GEST-122多功能炭素電極電阻率測(cè)試儀
GCSTD-FI液體高低介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
GEST-122多功能炭素粉末石墨電阻率測(cè)量?jī)x
FTDZ-I粉末電阻率測(cè)試儀
PMQS-I新款國(guó)產(chǎn)泡沫起升儀PMQS
GCDDJ-50Kv電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀
MCTH-500新款MCTH碳滑板摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)
PMQS-I新款泡沫起升儀PMQS
GCSTD-A/B液體絕緣材料高頻介電常數(shù)測(cè)試儀
PMQS-IPMQS泡沫起升儀
GEST-122炭素材料石墨電極電阻率測(cè)試儀
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心粉末綜合測(cè)試儀全自動(dòng)真密度儀
product
產(chǎn)品分類
真密度測(cè)量?jī)x-應(yīng)用阿基米德原理—?dú)怏w膨脹置換法，利用小分子直徑的惰性氣體（He）在一定條件下的玻義爾-馬略特定律（PV=nRT），通過(guò)測(cè)定由于樣品測(cè)試腔放入樣品所引起的樣品測(cè)試腔氣體容量的減少來(lái)精確測(cè)定樣品的真實(shí)體積，從而得到其真密度，真密度=質(zhì)量/真實(shí)體積。
更新時(shí)間：2025-04-09
產(chǎn)品型號(hào)：GCZMD-10
瀏覽量：1025
真密度測(cè)試儀-應(yīng)用阿基米德原理—?dú)怏w膨脹置換法，利用小分子直徑的惰性氣體（He）在一定條件下的玻義爾-馬略特定律（PV=nRT），通過(guò)測(cè)定由于樣品測(cè)試腔放入樣品所引起的樣品測(cè)試腔氣體容量的減少來(lái)精確測(cè)定樣品的真實(shí)體積，從而得到其真密度，真密度=質(zhì)量/真實(shí)體積。
更新時(shí)間：2025-04-09產(chǎn)品型號(hào)：GCZMD-10瀏覽量：960
真密度試驗(yàn)儀-應(yīng)用阿基米德原理—?dú)怏w膨脹置換法，利用小分子直徑的惰性氣體（He）在一定條件下的玻義爾-馬略特定律（PV=nRT），通過(guò)測(cè)定由于樣品測(cè)試腔放入樣品所引起的樣品測(cè)試腔氣體容量的減少來(lái)精確測(cè)定樣品的真實(shí)體積，從而得到其真密度，真密度=質(zhì)量/真實(shí)體積。
更新時(shí)間：2025-04-09產(chǎn)品型號(hào)：GCZMD-10瀏覽量：960
全自動(dòng)真密度試驗(yàn)儀-應(yīng)用阿基米德原理—?dú)怏w膨脹置換法，利用小分子直徑的惰性氣體（He）在一定條件下的玻義爾-馬略特定律（PV=nRT），通過(guò)測(cè)定由于樣品測(cè)試腔放入樣品所引起的樣品測(cè)試腔氣體容量的減少來(lái)精確測(cè)定樣品的真實(shí)體積，從而得到其真密度，真密度=質(zhì)量/真實(shí)體積。
更新時(shí)間：2025-04-09產(chǎn)品型號(hào)：GCZMD-10瀏覽量：979
全自動(dòng)真密度測(cè)量?jī)x-應(yīng)用阿基米德原理—?dú)怏w膨脹置換法，利用小分子直徑的惰性氣體（He）在一定條件下的玻義爾-馬略特定律（PV=nRT），通過(guò)測(cè)定由于樣品測(cè)試腔放入樣品所引起的樣品測(cè)試腔氣體容量的減少來(lái)精確測(cè)定樣品的真實(shí)體積，從而得到其真密度，真密度=質(zhì)量/真實(shí)體積。
更新時(shí)間：2025-04-09產(chǎn)品型號(hào)：GCZMD-10瀏覽量：993